详细介绍
一、用途

武汉冷热冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件，可作为其产品改进的依据或参考。

二、武汉冷热冲击试验箱满足标准

国军标GJB150.3-86；

国军标GJB150.4-86；

国军标GJB150.5-86；

三、说明:

１．采用触控式微电脑控制器，操作简单．

２．可选择二槽式或三槽式冲击．

３．可设定循环及除霜次数

４．异常及故障显示说明．

５．全系统之安全保护周全及停电记忆．

6．采用触控式图控操作介面，操作简易。

7．设备区分为高温区，低温区，测试区三部分，各区之箱体采独特之断热结构。

8．冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。

9．高温冲击时或低温冲击时，zui大时间可达奚9999分钟，zui大循环周期可达9999次。

10．系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷热冲启始。

11．冷却采用二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。