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准动态测量法测量块体、薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率
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准动态测量法测量块体、薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率
发布时间:2019-07-04 浏览次数:117
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方案优势
本仪器采用准动态法(具有专利技术)和四探针法分别测量样品的 seebeck 系数和电阻率。不仅可用于测量半导体块状样品,康铜、镍、铋等金属半金属样品,石墨、碳材料等非金属样品的seebeck 系数和电阻率,还可测薄膜(纳米)样品的 seebeck 系数和电阻率。
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